什么是缺陷密度？附计算公式与示例
Thomas Hamilton 什么是缺陷密度？
缺陷密度是软件/模块在**特定**操作或开发期间确认的缺陷数量除以软件/模块的大小。它能帮助我们决定一段软件是否可以发布。
缺陷密度以每千行代码（KLOC）计算。
如何计算缺陷密度
缺陷密度的计算公式Defect Density = Defect count/size of the release
发布版本的大小可以用代码行数（LoC）来衡量。
缺陷密度示例
假设您的软件产品集成了3个模块。每个模块发现的bug数量如下：
- 模块1 = 10个bug
- 模块2 = 20个bug
- 模块3 = 10个bug
总bug数 = 10+20+10 = 40
每个模块的总代码行数是
- 模块1 = 1000 LOC
- 模块2 = 1500 LOC
- 模块3 = 500 LOC
总代码行数 = 1000+1500+500 = 3000
缺陷密度计算如下
Defect Density = 40/3000 = 0.013333 defects/loc = 13.333 defects/Kloc
缺陷密度标准
然而，bug密度没有固定的标准，研究表明每千行代码一个缺陷通常被认为是项目质量良好的标志。
影响缺陷密度指标的因素- 代码复杂度
- 计算中考虑的缺陷类型
- 缺陷密度计算所考虑的时间段
- 开发人员或测试人员技能
缺陷密度的优势
- 它有助于衡量测试的有效性
- 它有助于区分组件/软件模块中的缺陷
- 它有助于识别需要修正或改进的领域
- 它有助于指出高风险组件
- 它有助于识别各种资源所需的培训需求
- 它有助于估算因bug导致的测试和返工量
- 它可以估算软件中剩余的缺陷
- 在发布之前，我们可以确定我们的测试是否充分
- 我们可以确保数据库具有标准的缺陷密度
